Samstag, 18. Januar 2020

Mi.3.A - Optische Verfahren / 12.05.2010

U. Börner, W. Ohnesorge
Mi.3.A.1
12:00
Detektion und Auffindwahrscheinlichkeit (POD) von Oberflächenfehlern in Metallen mittels optischer Inspektionsverfahren
M. Rauhut, Fraunhofer ITWM, Kaiserslautern
M. Spies, Baker Hughes, Process & Pipeline Services, Stutensee
K. Taeubner, Fraunhofer ITWM, Kaiserslautern
Kurzfassung:
In vielen Bereichen hängt die Güte eines Produkts mit der Qualität seiner Oberfläche zusammen. Bei ... mehr
Mi.3.A.2
12:20
Wie revolutionierte die LED Beleuchtung die Geräteentwicklung in der Endoskopie?
U. Reimer, viZaar, Albstadt
Kurzfassung:
Der Vortrag bietet einen Überblick in der Geräteentwicklung von den Anfängen in den 70igern bis heu... mehr
Mi.3.A.3
12:40
Minimierung der Ganzkörperverformung bei shearografischen Untersuchungen zur Erhöhung der Fehlerauffindwahrscheinlichkeit 

P. Menner, edevis, Stuttgart
G. Busse, Universität Stuttgart
Kurzfassung:
Shearografie ist ein industrialisiertes optisches Verfahren zur Qualitätskontrolle. Es eignet sich ... mehr