Sonntag, 19. Januar 2020

Di.2.A - Computertomographie I / 11.05.2010

R. Hanke, A. Siegle
Di.2.A.1
10:40
3D Koordinatenmesstechnik mittels Computertomographie: Genauigkeitsnachweis durch Vergleich mit taktilen Referenzmessungen
O. Brunke, GE Sensing & Inspection Technologies, Wunstorf
Kurzfassung:
Der erfolgreiche Einsatz von hochauflösender Computertomographie für metrologische Anwendungen wird... mehr
Di.2.A.2
11:00
Untersuchung der geometrischen Eigenschaften industrieller CT mit Hilfe eines neuartigen Prüfkörpers und den Methoden der Photogrammetrie
M. Neukamm, PTB, Braunschweig
A. Staude, BAM, Berlin
M. Schulze, PTB, Braunschweig
Kurzfassung:
Seit wenigen Jahren etabliert sich die industrielle Röntgen-Computertomographie im Bereich der Fert... mehr
Di.2.A.3
11:20
Dimensionelles Messen unter Phasenkontrast mit Synchrotron Computertomographie
K. Ehrig, A. Staude, BAM, Berlin
J. Goebbels, Berlin
M. Bartscher, M. Schulze, PTB, Braunschweig
Kurzfassung:
Phasenkontrastmessungen haben sich als hilfreich bei der Kantenfindung von Strukturen mit nur gerin... mehr
Di.2.A.4
11:40
Der Einfluss unterschiedlicher Materialzusammensetzungen auf das dimensionelle Messen von Mikroobjekten mittels Mikro-Computertomographie
M. Schulze, PTB, Braunschweig
K. Ehrig, A. Staude, BAM, Berlin
J. Brzoska, A. Jung, R. Meeß, M. Neugebauer, PTB, Braunschweig
Kurzfassung:
Innerhalb der letzten Jahre vollzog sich eine Weiterentwicklung der µCT vom rein qualitativen Prüfi... mehr