Sonntag, 19. Januar 2020
Mittwoch, 20.05.2009
A B C
Mi.3.A
Optische Verfahren
Börner, U., Ohnesorge, W.
Mi.3.A.1
12:00
Detektion und Auffindwahrscheinlichkeit (POD) von Oberflächenfehlern in Metallen mittels optischer Inspektionsverfahren
M. Rauhut, Fraunhofer ITWM, Kaiserslautern
Mi.3.A.2
12:20
Wie revolutionierte die LED Beleuchtung die Geräteentwicklung in der Endoskopie?
U. Reimer, viZaar, Albstadt
Mi.3.A.3
12:40
Minimierung der Ganzkörperverformung bei shearografischen Untersuchungen zur Erhöhung der Fehlerauffindwahrscheinlichkeit 
P. Menner, edevis, Stuttgart
Mi.3.B
Neue Verfahren
Maierhofer, C.
Mi.3.B.1
12:00
Darstellung des Verpresszustandes von Spannkanälen mit 3D-Ultraschallechoverfahren: Modellierung und Experiment
M. Krause, BAM, Berlin
Mi.3.B.2
12:20
Thermoelektrisches Prüfverfahren mit magnetischer Auslesung (TEM) unter Verwendung klassischer Magnetometer
J.H. Hinken, FI Test- und Messtechnik, Magdeburg
Mi.3.B.3
12:40
Prüfung der Kernumfassungsschrauben in Druckwasserreaktoren
A. Debnar-Beinssen, Hamburg
Mi.3.C
Verkehrswesen
Nancke, T., Hintze, H.
Mi.3.C.1
12:00
Die Erfurter Bahn GmbH und die Süd-Thüringen-Bahn GmbH als regionale Unternehmen mit ZfP-Anwendung im Industriesektor Eisenbahn-Instandhaltung
T. Josewsky, Erfurter Bahn, Erfurt
Mi.3.C.2
12:20
Innovative Prüftechniken für Radsatzwellen mit Längsbohrung
R. Meier, IPRM, Erlangen
Mi.3.C.3
12:40
Automatisierte Helium-Dichtheitsprüfung ohne Vakuumkammer (nicht nur) für den Automobilbereich
J. Puchalla, INFICON, Köln