Sonntag, 19. Januar 2020
Dienstag, 19.05.2009
A B C
Di.3.A
Computertomographie II
Gondrom, S., Goebbels, J.
Di.3.A.1
13:00
Mobiles CT-System für die In-Situ Prüfung des LHC am CERN
C. Sauerwein, RayScan Technologies, Meersburg
Di.3.A.2
13:20
Prozessintegrierte Gussteilprüfung mit Inline-Computertomographie
S. Oeckl, Fraunhofer IIS, EZRT, Fürth
Di.3.A.3
13:40
Computertomographiesystem (CT) zur automatisierten Prüfung von Eisbohrkernen
V. Voland, Fraunhofer IIS, EZRT, Fürth
Di.3.B
Terahertz
Hinken, J.H., Mook, G.
Di.3.B.1
13:00
Terahertz Technik für die industrielle Anwendung
J. Jonuscheit, Fraunhofer ITWM, Kaiserslautern
Di.3.B.2
13:20
Terahertz-Strahlung - Möglichkeiten für die Zerstörungsfreie Prüfung von Flüssigkeiten
L.S. von Chrzanowski, BAM, Berlin
Di.3.B.3
13:40
3D Materialprüfung mit Terahertz-Wellen und synthetischer Bildrekonstruktion
H. Quast, SynView, Bad Homburg
Di.3.C
Zustandsüberwachung
Hentschel, D., Goldammer, M.
Di.3.C.1
13:00
Sensoren zur Zustandsüberwachung von intralogistischen Anlagen
R. Zielke, TU Dortmund
Di.3.C.2
13:20
Ermittlung der Dispersion von Lamb-Wellen zur Zustandsüberwachung in anisotropen Bauteilen
J. Pohl, Hochschule Anhalt, Köthen
Di.3.C.3
13:40
Qualifizierung der Guided Wave Prüfmethode
T.K. Vogt, Guided Ultrasonics, Brentford, Großbritannien