Mi.3.A - Optische Verfahren
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Mi.3.A.1
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Detektion und Auffindwahrscheinlichkeit (POD) von Oberflächenfehlern in Metallen mittels optischer Inspektionsverfahren
M. Rauhut, Fraunhofer ITWM, Kaiserslautern
M. Spies, Fraunhofer ITWM, Kaiserslautern
K. Taeubner, Fraunhofer ITWM, Kaiserslautern
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Manuskript
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Mi.3.A.2
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Wie revolutionierte die LED Beleuchtung die Geräteentwicklung in der Endoskopie?
U. Reimer, Olympus Deutschland, Hamburg
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Manuskript
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Mi.3.A.3
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Minimierung der Ganzkörperverformung bei shearografischen Untersuchungen zur Erhöhung der Fehlerauffindwahrscheinlichkeit
P. Menner, IKT-ZfP, Universität Stuttgart
G. Busse, IKT-ZfP, Universität Stuttgart
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Manuskript
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