Sonntag, 19. Januar 2020

Mi.1.C - Thermographie / 12.05.2010

A. Dillenz, W. Heinrich
Mi.1.C.1
09:00
Entwicklung und Kombination optischer und thermografischer zerstörungsfreier Messverfahren zur Bewertung von Bauteiloberflächen und -grenzflächen
C. Maierhofer, R. Krankenhagen, M. Röllig, BAM, Berlin
R. Mecke, M. Schiller, T. Seidl, Fraunhofer IFF, Magdeburg
C. Hennen, U. Kalisch, J. Meinhardt, IDK, Halle
Kurzfassung:
Ein Großteil der durch Umwelteinflüsse wie z. B. Sonneneinstrahlung, Luftverschmutzung, Feuchtigkei... mehr
Mi.1.C.2
09:20
Geometrische Charakterisierung von Fehlstellen mittels lokal angeregter aktiver Thermografie
J. Schlichting, G.N. Kervalishvili, C. Maierhofer, BAM, Berlin
M. Kreutzbruck, Universität Stuttgart
Kurzfassung:
Die Charakterisierung von oberflächennahen Materialdefekten ist eine wichtige Grundlage für Vorhers... mehr
Mi.1.C.3
09:40
Aktive und passive Thermographie mit einer Dual-Band Kamera für das mittlere und langwellige Infrarot
M. Abuhamad, Fraunhofer IZFP, Saarbrücken
C. Reuß, DCG Systems, Erlangen
U. Netzelmann, Fraunhofer IZFP, Saarbrücken
Kurzfassung:
Seit einigen Jahren sind Infrarotkameras verfügbar, die mit einem Detektor simultan in zwei Wellenl... mehr
Mi.1.C.4
10:00
Grenzflächencharakterisierung mit aktiver Thermografie: Die Bedeutung des thermischen Kontaktwiderstands
C. Spießberger, edevis, Stuttgart
Kurzfassung:
Bei vielen Prüfproblemen in der zerstörungsfreien Prüfung spielen Grenzflächeneigenschaften eine wi... mehr